Космические аппараты на орбите непрерывно подвергаются бомбардировке высокоэнергетическими электронами, протонами и тяжёлыми ионами. Радиационные эффекты могут ухудшать характеристики полупроводниковых приборов вплоть до отказа. Наземные испытания облучением поэтому — неизбежный этап верификации надёжности космической электроники, а системы облучения электронным пучком являются ключевым оборудованием для этой задачи.
Особенности космической радиационной среды
Потоки высокоэнергетических электронов в радиационных поясах Земли динамически меняются в зависимости от высоты орбиты и солнечной активности. Для полупроводниковых приборов эффекты полной ионизирующей дозы (TID) вызывают сдвиги порогов и рост токов утечки, а радиационные повреждения смещения сокращают время жизни носителей заряда, влияя на биполярные и оптоэлектронные приборы.
Преимущества испытаний облучением электронным пучком
- Непрерывно регулируемая мощность дозы: моделирует уровни мощности дозы различных орбитальных сред и поддерживает ускоренные испытания;
- In-situ онлайн-измерение: электрические параметры приборов контролируются при облучении в зависимости от потока и времени, что исключает влияние отжига;
- Вакуумная совместимость: облучение и измерения в вакуумной камере максимально приближены к реальным орбитальным условиям.
Наше решение
Наши системы характеризации при облучении выполняют испытания чипов, печатных плат и целого оборудования в контролируемом вакууме, объединяя измерения электрических параметров in situ, мониторинг радиационных повреждений и модули оценки теплового управления с непрерывно регулируемой мощностью дозы — отвечая строгим требованиям верификации от уровня компонентов до уровня систем.
Подробные характеристики представлены на странице Продукция и услуги.