辐照性能表征系统是用于精确评估芯片、电路板、设备等在辐照环境下综合性能的关键测试平台。该系统通过精确模拟空间辐射环境，实现对核心元件的原位、在线性能表征。系统核心功能包括：在可控的真空环境中，精确测量辐照环境下器件、设备的核心电学参数随注量率与时间的演化规律；同步监测材料的辐射损伤效应，如晶格缺陷产生、电学性能退化等；并可集成热管理评估模块，分析辐照生热与热电耦合效应。
针对芯片、电路板、电子学系统及电池等对象的耐辐照性能测试，我们提供两款成熟的一体化辐照系统方案。
辐照性能表征系统是用于精确评估芯片、电路板、设备等在辐照环境下综合性能的关键测试平台。该系统通过精确模拟空间辐射环境，实现对核心元件的原位、在线性能表征。系统核心功能包括：在可控的真空环境中，精确测量辐照环境下器件、设备的核心电学参数随注量率与时间的演化规律；同步监测材料的辐射损伤效应，如晶格缺陷产生、电学性能退化等；并可集成热管理评估模块，分析辐照生热与热电耦合效应。
针对芯片、电路板、电子学系统及电池等对象的耐辐照性能测试，我们提供两款成熟的一体化辐照系统方案。
