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Le système d’essai et de caractérisation sous irradiation est conçu pour les tests de tenue aux radiations et la caractérisation des puces, cartes électroniques, systèmes électroniques, batteries et autres matériaux, dispositifs et équipements. Il adopte une architecture verticale intégrée comprenant trois unités principales : l’unité principale de caractérisation, une alimentation haute tension auxiliaire et une armoire de commande auxiliaire. Avec des débits de dose continûment réglables, il simule avec précision les environnements radiatifs spatiaux sévères sous vide contrôlé, permettant des essais de vérification qualitatifs et quantitatifs.
Évolutif et extensible
Hautes performances
Auto-stabilisé
Applications principales
Unité principale & fonctions clés
- Mesure précise de l’évolution des paramètres électriques clés des dispositifs/équipements en fonction du débit de fluence et du temps en environnement d’irradiation sous vide contrôlé
- Surveillance simultanée des effets d’endommagement radiatif tels que la formation de défauts cristallins et la dégradation des propriétés électriques
- Module optionnel d’évaluation de la gestion thermique pour l’analyse de l’échauffement sous irradiation et des effets thermoélectriques couplés
- Énergie du faisceau d’électrons de 10 keV à 200 keV, courant de 10 nA à 10 µA, taille de spot de 1 mm à 50 mm
- Système de balayage optionnel pour un balayage uniforme sur 1000 mm×1000 mm
Chambre à échantillons & interfaces
La chambre à échantillons offre de nombreuses interfaces, avec des positions de montage réservées pour un porte-échantillon mobile 2D et les traversées de signaux correspondantes. Les dimensions de la chambre sont personnalisables, disponibles en version cylindrique (≥ Ø600 mm × H600 mm) ou cubique (≥ 600×600×600 mm). Plusieurs tailles de brides — CF100/CF150/CF200/CF250 — accueillent échantillons, cages de Faraday, écrans fluorescents, pompes turbomoléculaires et autres, couvrant ainsi des besoins d’essai variés.
Sous-système de diagnostic & surveillance du faisceau
Le système utilise une sonde à cage de Faraday pour la mesure du courant de faisceau et une sonde à écran fluorescent pour la mesure de la taille de spot, combinées à une acquisition d’images CCD pour une surveillance de faisceau de haute précision.
- Résolution de la mesure de taille de spot
- Plage de courant de 1 mA à 10 nA, résolution meilleure que 10 nA
- Ouverture de cage et diamètre/épaisseur d’écran personnalisables sur demande
Alimentation haute tension de la source d’irradiation
- Alimentation HT reliée à l’unité principale par faisceaux de câbles HT spatiaux
- Conception hautement intégrée combinant 4 modules de puissance : alimentation HT, source de courant de chauffage, alimentation d’anode et alimentation de focalisation
- Protection complète incluant détection de surtension, de surintensité, de surchauffe et de décharge, pour un fonctionnement continu à long terme
Caractéristiques techniques
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Énergie du faisceau | 10 keV–200 keV réglable, pas ≤ 2 keV |
| Courant de faisceau | 10 nA–10 µA réglable, précision meilleure que 10 % |
| Champ d’exposition | Ø 1 cm–5 cm réglable |
| Volume de la chambre cylindrique | ≥ Ø600 mm × H600 mm |
| Niveau de vide de la chambre | meilleur que 2×10⁻⁴ Pa |
| Ports réservés de la chambre | plus de 4 ports à brides UHV standard CF35/CF100/CF150/CF200 |
| Système de mesure de courant | résolution meilleure que 10 nA |
| Résolution en taille de spot | meilleure que 0,1 mm |
| Précision de position du spot | meilleure que 0,05 mm |
| Plage de balayage | 1000 mm×1000 mm |
| Système de pompage | pompe turbomoléculaire + pompe sèche |
| Logiciel de commande | basé sur EPICS, commande locale/à distance, journalisation des paramètres et des historiques |
| Évolutivité | interface AEI universelle, compatible avec divers ensembles de cathodes |