Les systèmes de caractérisation sous irradiation sont des plateformes d’essai essentielles pour évaluer avec précision les performances globales des puces, cartes électroniques et équipements en environnement d’irradiation. En simulant fidèlement l’environnement radiatif spatial, le système permet la caractérisation in situ et en ligne des composants critiques. Ses fonctions principales incluent : la mesure précise de l’évolution des paramètres électriques clés des dispositifs et équipements en fonction du débit de fluence et du temps sous vide contrôlé ; la surveillance simultanée des effets d’endommagement radiatif des matériaux, comme la formation de défauts cristallins et la dégradation des propriétés électriques ; et l’intégration optionnelle d’un module d’évaluation de la gestion thermique pour analyser l’échauffement sous irradiation et les effets thermoélectriques couplés.
Pour les essais de tenue aux radiations des puces, cartes électroniques, systèmes électroniques et batteries, nous proposons deux solutions intégrées et éprouvées de systèmes d’irradiation.
Série de produits
Système d’essai & caractérisation sous irradiation
Large plage d’énergie 10 keV–200 keV, grande chambre à échantillons, diagnostic de faisceau et alimentation HT intégrés, commande locale/à distance.
Système d’irradiation à source d’électrons sous vide
Plage d’énergie intermédiaire 40 keV–60 keV, champ d’exposition de 100 mm à 1000 mm, uniformité ≥ 90 %, idéal pour les procédés d’irradiation uniforme en série.