Systeme zur Charakterisierung von Bestrahlungsleistungen sind zentrale Prüfplattformen zur genauen Bewertung des Gesamtverhaltens von Chips, Leiterplatten und Geräten unter Bestrahlungsumgebung. Durch präzise Nachbildung der Weltraumstrahlungsumgebung ermöglicht das System die In-situ-Online-Charakterisierung von Kernkomponenten. Zu den Kernfunktionen zählen: die genaue Messung der Entwicklung zentraler elektrischer Parameter von Bauteilen und Geräten über Flussrate und Zeit in kontrollierter Vakuumumgebung; die simultane Überwachung von Strahlenschäden in Materialien wie Gitterdefektbildung und elektrischer Degradation; sowie die optionale Integration eines thermischen Bewertungsmoduls zur Analyse von Bestrahlungserwärmung und thermoelektrischen Kopplungseffekten.
Für Strahlenfestigkeitstests von Chips, Leiterplatten, elektronischen Systemen und Batterien bieten wir zwei ausgereifte, integrierte Bestrahlungssystem-Lösungen an.
Produktserie
System zur Bestrahlungsleistungsprüfung & Charakterisierung
Breiter Energiebereich 10 keV–200 keV, große Probenkammer, integrierte Strahldiagnostik und Hochspannungsversorgung, Orts-/Fernbedienung.
Vakuumelektronenquellen-Bestrahlungssystem
Mittlerer Energiebereich 40 keV–60 keV, Bestrahlungsfeld 100 mm–1000 mm, Gleichmäßigkeit ≥90 %, ideal für gleichmäßige Massenbestrahlungsprozesse.