Système d’irradiation à source d’électrons sous vide

.pd-section{margin:2.5em 0;}
.pd-hero{display:flex;flex-wrap:wrap;align-items:center;gap:32px;}
.pd-hero-text{flex:1 1 320px;}
.pd-hero-img{flex:1 1 280px;text-align:center;}
.pd-hero-img img{width:100%;max-width:520px;border-radius:8px;box-shadow:0 6px 24px rgba(0,0,0,.08);}
.pd-tagline{color:#0B6BBF;font-weight:600;font-size:16px;margin-bottom:6px;}
.pd-chips{display:flex;flex-wrap:wrap;gap:10px;margin-top:16px;}
.pd-chip{background:#EAF3FB;color:#0B6BBF;padding:6px 14px;border-radius:20px;font-size:13px;}
.pd-cards{display:flex;flex-wrap:wrap;gap:16px;margin-top:14px;}
.pd-card{flex:1 1 200px;padding:18px;background:#F7FAFC;border-left:4px solid #0B6BBF;border-radius:0 8px 8px 0;}
.pd-card strong{display:block;margin-bottom:4px;}
.pd-card small{color:#5a6a7a;}
.pd-two-col{display:flex;flex-wrap:wrap;gap:24px;align-items:flex-start;margin-top:14px;}
.pd-col{flex:1 1 260px;}
.pd-col img{width:100%;border-radius:8px;background:#f7fafc;}
.pd-grid{display:flex;flex-wrap:wrap;gap:16px;}
.pd-grid .pd-item{flex:1 1 200px;}
.pd-grid .pd-item img{width:100%;border-radius:6px;}
.pd-table{width:80%;border-collapse:collapse;margin:1em auto 0;}
.pd-table th,.pd-table td{padding:10px 12px;border:1px solid #e1e6ec;text-align:left;}
.pd-table th{background:#f1f5fa;font-weight:600;}
.pd-cta{margin-top:2em;}
.pd-cta a{display:inline-block;padding:12px 28px;background:#0B6BBF;color:#fff;text-decoration:none;border-radius:4px;}
.pd-back{margin-top:1em;font-size:14px;}

40 keV–60 keV · Irradiation uniforme · Prêt pour les procédés en série

Le système d’irradiation à source d’électrons sous vide est destiné aux essais de tenue aux radiations et à la caractérisation des puces, cartes électroniques, systèmes électroniques, batteries et autres matériaux, dispositifs et équipements. Avec des débits de dose continûment réglables, il permet la vérification qualitative et quantitative des environnements radiatifs spatiaux sévères sous vide.

Hautes performances
Auto-stabilisé
Journalisation des historiques
Évolutif et extensible

Système d'irradiation à source d'électrons sous vide (schéma)

Schéma de principe

Applications principales

Irradiation de matériaux et dispositifsEssais de tenue aux radiations pour puces, cartes électroniques, systèmes électroniques et batteries
Simulation d’environnement spatialDébits de dose continûment réglables pour la vérification de l’environnement radiatif spatial
Caractérisation qualitative/quantitativeVérification qualitative et quantitative des environnements spatiaux sévères
Traitement en sérieChamp d’exposition de 100 mm à 1000 mm, uniformité ≥ 90 %

Unité principale & fonctions clés

Unité principale du système à source d'électrons sous vide (schéma)

Schéma de principe
  • Équipé d’un sous-système indispensable de diagnostic et de surveillance du faisceau, incluant mesure de courant, mesure de taille de spot et diagnostic des paramètres du faisceau
  • Système de commande basé sur EPICS avec commande locale/à distance, interfaces de verrouillage de sécurité et journalisation des paramètres et des historiques de mesure
  • Évolutif et extensible en matière de courant de faisceau en sortie
  • Énergie du faisceau d’électrons de 40 keV à 60 keV, courant de 1 µA à 100 µA
  • Diamètre du champ d’exposition réglable de 100 mm à 1000 mm, uniformité ≥ 90 %

Alimentation haute tension de la source d’irradiation

Alimentation haute tension de la source d'irradiation
  • Alimentation HT reliée à l’unité principale par faisceaux de câbles HT spatiaux
  • Conception hautement intégrée combinant 4 modules de puissance : alimentation HT, source de courant de chauffage, alimentation d’anode et alimentation de focalisation
  • Protection complète incluant détection de surtension, de surintensité, de surchauffe et de décharge, pour un fonctionnement continu à long terme

Caractéristiques techniques

Paramètre Spécification
Énergie du faisceau 40 keV–60 keV réglable, pas ≤ 2 keV
Courant de faisceau faisceau continu, réglable de 1 µA à 100 µA
Champ d’exposition Ø 100 mm–1000 mm réglable
Uniformité d’irradiation ≥ 90 %
Niveau de vide meilleur que 2×10⁻⁴ Pa
Résolution en taille de spot meilleure que 0,1 mm
Résolution de mesure de courant meilleure que 10 nA
Système de commande basé sur EPICS, commande locale/à distance, journalisation des historiques
Fonctions de sécurité protection complète incluant détection de surtension, de surintensité, de surchauffe et de décharge

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