Nos produits
Source d'électrons
La source d’électrons est le composant d’entrée essentiel d’un accélérateur de particules ; sa fonction première est de générer et d’émettre un faisceau d’électrons de haute qualité. Elle se compose généralement d’une cathode, d’une anode, d’électrodes de focalisation et de structures d’isolation haute tension, et fonctionne selon les principes de l’émission thermionique ou de l’émission de champ. Ses performances déterminent directement la qualité globale du faisceau de l’accélérateur. Les indicateurs clés incluent la densité de courant d’émission, l’émittance du faisceau, la dispersion en énergie et la stabilité en exploitation à long terme. Une source d’électrons de qualité doit délivrer un faisceau de brillance élevée, de faible émittance et d’excellente reproductibilité — la condition indispensable à l’accélération et à la focalisation ultérieures, ainsi qu’aux applications à haut rendement telles que les lasers à électrons libres, le rayonnement synchrotron ou l’irradiation industrielle.
Nous fournissons des faisceaux d’électrons d’énergies de 1 keV à 200 keV, de courants de 1 nA à 15 mA et de tailles de spot de 1 mm à 50 mm ; un système de balayage optionnel assure un balayage uniforme sur une surface allant jusqu’à 1000 mm × 1000 mm.
Sondes de diagnostic de faisceau
Le système de diagnostic de faisceau est l’organe sensoriel d’un accélérateur de particules. Sa fonction principale est de mesurer — en temps réel, de manière non destructive ou avec une perturbation minimale — les paramètres clés tels que l’intensité, la position, le profil, la taille, l’émittance et la dispersion en énergie du faisceau, fournissant des données indispensables au réglage de précision, au fonctionnement stable et à l’optimisation des performances. Le système comprend une variété de sondes non interceptives et interceptives : les transformateurs de courant de faisceau (BCT) et les moniteurs de courant de paroi mesurent le courant et la structure temporelle ; les moniteurs de position de faisceau (BPM) suivent la trajectoire ; les scanners à fil et les écrans fluorescents capturent les profils transverses ; les moniteurs à lumière synchrotron et à rayonnement de diffraction permettent une observation non interceptrice ; les spectromètres mesurent l’énergie, et les dispositifs à fente ou de type pepper-pot mesurent l’émittance. Ensemble, ces détecteurs assurent un bilan de santé complet du faisceau.
Systèmes d'irradiation
Le système de caractérisation sous irradiation est une plateforme d’essai essentielle pour évaluer avec précision les performances globales des puces, cartes électroniques et équipements en environnement radiatif. En simulant fidèlement l’environnement radiatif spatial, il permet la caractérisation in situ et en ligne des composants critiques. Ses capacités principales incluent : la mesure précise de l’évolution des paramètres électriques clés des dispositifs et équipements en fonction du flux et du temps sous vide contrôlé ; la surveillance simultanée des effets d’endommagement radiatif des matériaux, comme la formation de défauts cristallins et la dégradation électrique ; et l’intégration de modules d’évaluation de la gestion thermique pour analyser l’échauffement sous irradiation et les effets thermoélectriques couplés.