Fluoreszenzschirm-Sondensystem

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Hochempfindliche transientenoptische Abbildung · Echtzeit-Überwachung von Strahlprofil/Position/Intensität

Das Fluoreszenzschirm-Sondensystem ist ein zentrales Strahldiagnostikinstrument für Hochenergie-Teilchenbeschleuniger und Intensitätslaser-Experimente. Es nutzt die Fluoreszenzanregung spezieller Materialien beim Beschuss mit hochenergetischen Teilchenstrahlen, kombiniert mit hochempfindlicher transientenoptischer Abbildung, und liefert eine echtzeitfähige, hochpräzise 2D-Überwachung von Strahlprofil, räumlicher Position und Intensitätsverteilung.

Hochintegriert
Hochgradig anpassbar
Ausgezeichnetes Vakuum
Reichhaltige Steuerschnittstellen
Echtzeit-Abbildung & Analyse

Fluoreszenzschirm-Sondensystem

Haupteinsatzgebiete

ElektronenbeschleunigerÜberwachung von Strahlprofil und -position für Elektronenkanonen und Linearbeschleuniger
IonenstrahllinienStrahldiagnostik für Ionenquellen, niederenergetische Transportlinien und Experimentierendstationen
Experimentelle CharakterisierungBewertung der Strahlqualität für kernphysikalische Experimente und Materialbestrahlungstests
Präzises TargetingEchtzeit-Rückmeldung für komplexe physikalische Experimente

Produktmerkmale

  • Hochintegriert: Integriert Szintillationsschirm, Lichtweg, Erfassungs-/Verarbeitungssystem und Schirmantrieb — direkt an der Zielstrahllinie montierbar, ohne zusätzliche Justage
  • Zwei Schirmtypen verfügbar: Wassergekühlte (keramikbeschichtete Kupfer-) oder ungekühlte (Keramik-)Schirme für unterschiedliche Strahlleistungsbedingungen
  • Hochgradig anpassbar: Flanschoptionen CF100–CF250 und ISO100–ISO250; Hub und Mittelpunktsabstand anpassbar; pneumatischer oder motorischer Antrieb; runde oder quadratische Schirme in verschiedenen Größen
  • Ausgezeichnetes Vakuum: Leckrate besser als 5×10⁻⁸ Pa·L/s, geeignet für HV- und UHV-Umgebungen
  • Reichhaltige Steuerschnittstellen: Unterstützt EPICS, TANGO, LACCS und weitere Beschleunigersteuersysteme
  • Echtzeit-Abbildung & Analyse: Ausgereifte Steuersoftware bietet Schirmbewegungssteuerung, Echtzeit-Bilderfassung und -analyse und zeigt Spotgröße, Position und weitere Strahlinformationen in Echtzeit an
Sondenfoto (ungekühlter Keramikschirmtyp)Sondenfoto (wassergekühlter Typ)

Arbeitsprinzip

Beim Beschuss mit hochenergetischen Teilchenstrahlen (Elektronen, Protonen, schwere Ionen) emittiert der Fluoreszenzschirm optische Signale, die durch das Vakuumfenster auf eine hochempfindliche Kamera übertragen und dort in Echtzeit zu einem 2D-Strahlprofil abgebildet werden. Die Steuersoftware verarbeitet die Bilder und gibt zentrale Parameter wie Spotgröße, Position und Intensitätsverteilung aus.

Diagramm des Arbeitsprinzips

Steuersoftware-Oberfläche

Das ausgereifte, vollständige Steuersoftwaresystem bietet Sondenbewegungssteuerung, Echtzeit-Bilderfassung und rechnerische Analyse und zeigt Spotgröße, Position und weitere Strahlinformationen in Echtzeit an.

Steuersoftware-Oberfläche

Technische Daten

Parameter Wert
Flanschschnittstelle Standard CF100–CF250, ISO100–ISO250 Optionen, auf Anfrage anpassbar
Hub Standard 200 mm oder 300 mm, auf Anfrage anpassbar
Mittelpunktsabstand Standard 150 mm oder 200 mm, auf Anfrage anpassbar
Schirmgröße Ø60–100 mm rund oder 60–200 mm quadratisch
Szintillationsschirm Al₂O₃-dotierter Szintillator, OTR oder YAG-Kristallschirm
Bilderfassung verschiedene Optionen inkl. 720×540, 1440×1080; Auflösung bis 0,1 mm
Steuersoftware EPICS, LACCS und weitere Beschleunigersteuersoftware-Schnittstellen
Bewegungssteuerung pneumatische oder motorische Antriebsoptionen

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