照射性能評価システムは、照射環境下におけるチップ・基板・機器などの総合性能を精密に評価するための重要な試験プラットフォームです。宇宙放射線環境を精密に模擬することで、中核部品のその場・オンライン性能評価を実現します。主な機能：制御された真空環境中で、照射環境下におけるデバイス・機器の主要電気パラメータの注量率・時間に対する変化を精密測定；格子欠陥生成・電気特性劣化などの放射線損傷効果を同時監視；さらに熱管理評価モジュールを統合し、照射発熱と熱電結合効果を解析可能。
チップ・基板・電子システム・電池などの耐照射性能試験に対し、当社は2つの成熟した一体化照射システムソリューションを提供します。
