航天器在轨运行期间持续遭受高能电子、质子及重离子轰击，辐射效应可能导致半导体器件性能退化甚至失效。地面辐照试验因此成为航天电子器件可靠性验证不可绕过的环节，而电子束辐照系统正是其中的关键设备。
空间辐射环境的特点
地球辐射带中的高能电子通量随轨道高度与太阳活动动态变化。对半导体器件而言，电离总剂量（TID）效应会引起阈值漂移、漏电流增大；位移损伤效应则降低载流子寿命，影响双极器件与光电器件性能。
电子束辐照试验的优势
- 剂量率连续可调：可模拟不同轨道环境的剂量率水平，支持加速试验；
- 原位在线测量：辐照过程中同步监测器件电学参数随注量与时间的演化，避免退火效应干扰；
- 真空环境兼容：真空腔体内的辐照与测量更贴近真实在轨条件。
我们的解决方案
我公司的辐照性能表征系统可在可控真空环境中对芯片、电路板及整机进行辐照测试，集成电学参数原位测量、辐射损伤监测与热管理评估模块，剂量率连续可调，满足从元器件级到设备级的严苛验证需求。
欢迎访问产品和服务页面了解详细参数。